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Электронный компонент: Q62702-P51

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BPX 79
Semiconductor Group
179
Silizium-Fotoelement mit erhhter Blauempfindlichkeit
Silicon Photovoltaic Cell with Enhanced Blue Sensitivity
Wesentliche Merkmale
q
Speziell geeignet fr Anwendungen im
Bereich von 350 nm bis 1100 nm
q
Kathode = Chipunterseite
q
Mit feuchtigkeitsabweisender Schutzschicht
berzogen
q
Weiter Temperaturbereich
Anwendungen
q
fr Me
-, Steuer- und Regelzwecke
q
zur Abtastung von Lichtimpulsen
q
quantitative Lichtmessung im sichtbaren
Licht- und nahen Infrarotbereich
fso06631
Features
q
Especially suitable for applications from
350 nm to 1100 nm
q
Cathode = back contact
q
Coated with a humidity-proof protective
layer
q
Wide temperature range
Applications
q
For control and drive circuits
q
Light pulse scanning
q
Quantitative light measurements in the
visible light and near infrared range
Typ
Type
Bestellnummer
Ordering Code
BPX 79
Q62702-P51
Ma
e in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
BPX 79
10.95
BPX 79
Semiconductor Group
180
Grenzwerte
Maximum Ratings
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Betriebs- und Lagertemperatur
Operating and storage temperature range
T
op
;
T
stg
55 ... + 100
C
Sperrspannung
Reverse voltage
V
R
1
V
Kennwerte (
T
A
= 25
C, Normlicht A,
T
= 2856 K)
Characteristics (
T
A
= 25
C, standard light A,
T
= 2856 K)
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Fotoempfindlichkeit,
V
R
= 0 V
Spectral sensitivity
S
170
nA/Ix
Wellenlnge der max. Fotoempfindlichkeit
Wavelength of max. sensitivity
S max
800
nm
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
S
= 10 % von
S
max
Spectral range of sensitivity
S
= 10 % of
S
max
350 ... 1100
nm
Bestrahlungsempfindliche Flche
Radiant sensitive area
A
20
mm
2
Abmessungen der
bestrahlungsempfindlichen Flche
Dimensions of radiant sensitive area
L
B
L
W
4.47
4.47
mm
Halbwinkel
Half angle
60
Grad
deg.
Dunkelstrom,
V
R
= 1 V;
E
= 0
Dark current
I
R
0.3 (
50)
A
Spektrale Fotoempfindlichkeit,
= 400 nm
Spectral sensitivity
S
0.19
A/W
Quantenausbeute,
= 400 nm
Quantum yield
0.60
Electrons
Photon
Leerlaufspannung,
E
v
= 1000 Ix
Open-circuit voltage
V
O
450
mV
Kurzschlu
strom
Short-circuit current
E
e
= 0.5 mW/cm
2
,
= 400 nm
I
SC
19 (
14)
A
BPX 79
Semiconductor Group
181
Anstiegs und Abfallzeit des Fotostromes
Rise and fall time of the photocurrent
R
L
= 1 k
;
V
R
= 1 V;
= 850 nm;
I
p
= 150
A
t
r
,
t
f
6
s
Temperaturkoeffizient von
V
O
Temperature coefficient of
V
O
TC
V
2.6
mV/K
Temperaturkoeffizient von
I
SC
Temperature coefficient of
I
SC
TC
I
0.2
%/K
Kapazitt,
V
R
= 10 V,
f
= 1 MHz,
E
v
= 0 Ix
Capacitance
C
0
2500
pF
Kennwerte (
T
A
= 25
C, Normlicht A,
T
= 2856 K)
Characteristics (
T
A
= 25
C, standard light A,
T
= 2856 K)
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
BPX 79
Semiconductor Group
182
Relative spectral sensitivity
S
rel
=
f
(
)
Dark current
I
R
=
f
(
T
A
),
V
R
= 1 V,
E
= 0
Open-circuit voltage
V
O
=
f
(
E
v
)
Short-circuit current
I
SC
=
f
(
E
v
)
Total power dissipation
P
tot
=
f
(
T
A
)
Capacitance
C
=
f
(
V
R
),
f
= 1 MHz,
E
= 0
Directional characteristics
S
rel
=
f
(
)